From: エレクトロニクス実装学会 <kouken3@jiep.or.jp>
日付: 2017年07月05日 08時51分
件名: 【JIEP】官能検査システム化研究会 公開研究会のご案内
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JIEP官能検査システム化研究会 第9回公開研究会のご案内
AIST製造技術イノベーション協議会 インスペクション技術研究会協賛
＜IoT時代における次世代の検査とは＞
https://web.jiep.or.jp/seminar/tcwg/tc11_ase20170726/
官能検査システム化研究会
主査 野中一洋（産総研）
◆開催趣旨
IoT、ビッグデータ、AI活用など、産業の形態はあらたな進化を迎えています。
しかしながら、ものづくりを支える検査については、他の工程に比べて新しい技術
の導入が進んでおらず、とくに目視検査など、人手に頼った検査が製造の各所に残
されています。ロボット化の進んだ最新工場ですら検査工程だけは逆に人の塊がで
きてしまっているというのが現状です。しかし、今後は、生産性向上、品質確保、
労働力・熟練者の減少など、差し迫った課題への対応と共に、製造業のサービス化
など、次代を見据えた対応が問われています。検査工程も生産工程全体、あるいは、
サービス化等のビジネス戦略を見据えた観点から、見直していく必要があると考え
ます。
当研究会では、ものづくりの現場で実施されている官能検査の自動化・システム
化について、可視化、数値化、高速化、および共通化など、これまで様々な角度か
ら幅広い議論を行っています。今回は、これまでの参加者の皆様からご要望の大き
いAIの検査応用をはじめ、画像処理、センシング、および異常診断等に関する最新
技術について具体事例を交えてご紹介いただきます。講演会終了後に交流会（無料）
も予定しています。
皆さまの積極的なご参加をお待ちしております。
◆開催日時： 平成29年7月26日（水）〈13：30～17：10〉
◆会 場 ： 回路会館 地下会議室
ＪＲ中央線西荻窪駅下車徒歩約７分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2
地図 → https://web.jiep.or.jp/about/access.html
◆テ ー マ： IoT時代における次世代の検査とは
◆プログラム
○13：00 受付開始
○13：30 開会挨拶（野中 一洋 主査）
○13：35～14：20 一般講演1
「深層学習・機械学習を取り入れた外観検査」
みずほ情報総研 永田 毅
○14：20～15：05 一般講演2
「人工知能を活用した業務効率化の事例紹介と今後の展開（仮題）」
NEC 中村 暢達（仮）
（15：05～15：20 休憩）
○15：20～16：05 一般講演3
「電力設備保守における目視検査の自動化に向けて」
電力中央研究所 中島慶人
○16：05～16：50 一般講演4
「アンサンブルMT法と薄型AEセンサの適用によるワイヤボンディングの
接合状態推定」
産総研 石田秀一
○16：50～17：10 フリーディスカッション
○17：10～18：10 技術交流会（名刺交換、情報交換等）
注1）プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。
◆定 員： 100名（先着申し込み順 定員になり次第締め切ります）
〈参加申し込みは当日まで受け付けますが、予稿集などの準備の
関係上、事前登録にご協力をお願いします。〉
参加者の皆様にはご名刺を頂戴いたしますので、ご用意ください。
ご名刺がない場合には、ご記帳いただきます。
◆参加費：（予稿集代込み、消費税込み）
正会員： 5,000円
学生会員：無料（学生証を受付で提示してください）
シニア会員： 1,000円
賛助会員： 6,000円
非会員：10,000円
非会員学生： 1,000円（学生証を受付で提示してください）
注１） 参加費は当日受付で徴収します。
つり銭の無いようご準備をお願いします。
注２） 賛助会員クーポンのご利用はできません。
注３） 交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を申込画面の
所定欄にご入力ください。
◆申込方法：参加申し込みはこちら↓
https://web.jiep.or.jp/seminar/tcwg/tc11_ase20170726/
登録されますと参加登録完了メールが返信されます。
申し込みをキャンセルされる場合は、参加登録完了メールに記載の
キャンセル用URLから入力ください。
◆問合せ先：エレクトロニクス実装学会 官能検査システム化研究会
第9回公開研究会 係
ase@jiep.or.jp
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