From: エレクトロニクス実装学会 <kouken3@jiep.or.jp>
日付: 2018年01月10日 17時05分
件名: 【JIEP】【〆切間近】ＪＩＥＰ官能検査システム化研究会 第10回公開研究会開催のご案内
<< JIEPからのご案内 <<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<
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JIEP官能検査システム化研究会 第10回公開研究会開催のご案内
（第25回インスペクション技術研究会講演会）
産総研コンソ 製造技術イノベーション協議会
インスペクション技術研究会協賛
----IoT時代における検査とは----
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下記の通り、JIEP 官能検査システム化研究会 第10回公開研究会を
開催いたしますので、ご案内申し上げます。
詳しい内容は、下記URLをご覧下さい。
◆官能検査システム化研究会 第10回公開研究会開催案内：
https://web.jiep.or.jp/seminar/tcwg/tc31_ase20180124/
主催：エレクトロニクス実装学会 官能検査システム化研究会
協賛：産総研コンソ「製造技術イノベーション協議会」インスペクション技術研究会
【日時】平成30年1月24日（水）〈13：30〜17：10〉
【場所】回路会館 地下会議室
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2 TEL：03-5310-2010
地図 → https://web.jiep.or.jp/about/access.html
【プログラム】
13:00 受付開始
13：30 開会挨拶（野中 一洋 主査）
13：35〜14：15
講演１「スマートグリーン製造における計測制御プラットフォームの開発」
摂南大学 諏訪 晴彦
14：15〜14：55
講演２ 「Deep Learningを応用した製造業向け外観検査ソフトウェア」
システム計画研究所 井上 忠治
（14：55〜15：10 休憩）
15：10〜15：50
講演３ 「目視官能検査の自動化技術 ?電子ディスプレイ画質検査を事例とし
て?」
広島工業大学 浅野 敏郎
15：50〜16：30
講演４ 「プラズマエッチングプロセスにおけるパーティクル検出手法の開
発」
産業技術総合研究所 笠嶋 悠司
16：30〜16：50
新設研究会の紹介 「ボード検査の一方式、バウンダリスキャン研究会４月１
日発足のご案内」
愛媛大学 亀山 修一(発起人)
16：50〜17：10 フリーディスカッション
17：10〜18：10 技術交流会
※プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。
【定員】
100名（先着申し込み順 定員になり次第締め切ります）
〈参加申し込みは当日まで受け付けますが、予稿集などの準備の関係上、
事前登録にご協力をお願いします。〉
参加者の皆様にはご名刺を頂戴いたしますので、ご用意ください。
ご名刺がない場合には、ご記帳いただきます。
【参加費】（予稿集代込み、消費税込み）
※以下会員とは、エレクトロニクス実装学会の会員のことで、協議
会会員とは別になりますのでお間違えないようお願いします。
正会員： 5,000円
賛助会員： 6,000円
シニア会員： 1,000円
名誉会員：無料
非会員：10,000円
学生会員：無料（学生証を受付で提示してください）
非会員学生： 1,000円（学生証を受付で提示してください）
注１）参加費は当日受付で徴収します。つり銭の無いようご準備をお願いします。
注２）賛助会員クーポン券のご利用はできません。
注３）交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を申込画面の所定欄にご入
力ください。
◆申込方法：参加申し込みはこちら↓
https://web.jiep.or.jp/seminar/tcwg/tc31_ase20180124/
登録されますと参加登録完了メールが返信されます。
申し込みをキャンセルされる場合は、参加登録完了メールに記載のキャンセル用
URLから入力ください。
◆問合せ先：エレクトロニクス実装学会 官能検査システム化研究会
第10回公開研究会 係
ase@jiep.or.jp
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［お願いとご注意］
エレクトロニクス実装学会からお送りしているご案内には、添付ファイル
は添付しておりません。
添付ファイルが添付されている場合は、ウイルスメールの可能性がありま
すので絶対に添付ファイルを開かないでください。
お願いいたします。
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